Ubi Technik GmbH
Doppelseitige AOI-Inspektion
Mit dem neuen LV CompactTWIN bietet
Schneider & Koch jetzt auch ein
kompaktes AOI-System an, mit dem
doppelseitig bestückte Baugruppen
gleichzeitig von oben und unten
inspiziert werden können. Durch die
parallele Prüfung werden Prüf- und
Handlingzeiten erheblich reduziert.
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Zeitgleiche Inspektion der
Baugruppenober / -unterseite
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Grundlage des neuen AOI-Systems
LV CompactTWIN bildet das bewährte
LV Compact 3 aus dem Hause Schneider &
Koch. Durch die Integration eines zweiten
Testkopfes ist das System in der Lage,
doppelseitig bestückte Baugruppen sowie
THT-Lötstellen gleichzeitig von oben und
unten zu prüfen. Das System gestattet die
Kontrolle von Bauteilen mit einer
beidseitigen Bestückhöhe von bis zu
45 mm. Die Megapixel-Farbkameras mit
telezentrischem Objektiv ermöglichen die
Aufnahme von Farbbildern mit einer
Auflösung von 18,7μm bzw. 10μm. Es
lassen sich Arbeitsbereiche von bis zu
450 x 350 mm abdecken. In Abhängigkeit
von Boarddesign und Konfiguration
können typischerweise bis zu 100.000
Bauteile pro Stunde geprüft werden.
Zudem besteht optional die Möglichkeit,
3-D Prüfungen durch Integration eines
zusätzlichen Schrägblick-Moduls durchzuführen.
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Modularer Aufbau
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Das LV CompactTWIN ist modular
aufgebaut, so dass es wahlweise und je
nach Kundenanforderung als einseitiges
AOI-System oder zur doppelseitigen
Inspektion genutzt werden kann.
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Ausgereifte Systemsoftware
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Für die Steuerung der Prüfprogramme
bietet Schneider & Koch eine komfortable
und ausgereifte Systemsoftware an, die
es dem Anwender erlaubt, parallel
durchgeführte Prüfungen der Ober- und
Unterseite auf einer einheitlichen
Oberfläche zu bearbeiten. Auch die
Prüfprogrammerstellung wird durch vollautomatische
CAD-Datenkonvertierung,
grafisch unterstützte Programmierung,
automatische Menüführung sowie durch
Wizard-geführte Eingaben erheblich
vereinfacht. So können Testprogramme
ohne Programmierkenntnisse und in
kürzester Zeit erstellt werden.